产品介绍：
便携式电阻率测试仪用于测量硅晶块、晶片的电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的仪器。
仪器按照半导体材料电阻率的测试方法要求。仪器是由电器测量部份（主机）及四探针头组成，需要时可加配测试架。
仪器用一块数字表测量电流及电阻率。样品测试电流是由恒流源提供，可进行校准，仪器可用于分选材料及产品检测。对1～100Ω·cm样片的测量误差＜±3%。
规格参数：
测量范围：
测量电阻率：0.01～199.9Ω·cm
测方块电阻：0.1～1999Ω/□
被测材料电阻率：≥200Ω·cm
数字表显示：0.00
恒流源：
直流输出电流：0.1mA～10mA分两档
0.1～1mA连续可调
1mA～10mA连续可调
恒流精度：±0.1%
直流数字电压表
测量范围：0～199.9mv
灵敏度：100μV
准确度：0.2%（±2个字）
供电电源：AC 220V ±10%，50z/60Hz
功率范围：8W
相对湿度：≤80%
外形尺寸：210×100×240mm
产品重量：3Kg
