产品详情

• 产品介绍：

  高频光电导少数载流子寿命测试仪是按照半导体设备和材料MF1535-0707及GB/T 26068的要求，采用高频光电导衰减测量方法，适用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，硅单晶寿命测量ρ≥3Ω·cm。

  规格参数：

  寿命测试范围：5-10000μs

  电阻率测量范围：ρ≥3Ω·cm，

  光脉冲发生装置

  重复频率：＞25次/s

  脉宽：≥60μs

  光脉冲关断时间＜1μs

  红外光源波长：1.06μm（测量硅单晶），如测量锗单晶寿命需配适当波长的光源。

  脉冲电源：5A-12A

  高频源 

  频率范围：30MHz

  输出功率＞1W

  放大器、检波器

  频率响应：2Hz-3MHz

  读数方式：可选配测试软件或数字示波器读数

  测试软件：具有自动保存数据及测试点衰减波形，可进行查询历史数据和导出历史数据等操作。