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电磁式及高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本

型号:WBLZ-370
货号:ZH6915
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  •  本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
    内置打印机,可打印数据,有四个统计功能。
    测定方法:电磁式及高频涡流式
    测定对象:磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上,缘层
    测定范围:电磁式:0~1500um或0~60.0mils
    高频式:0~800um或0~32.0mils
    测定精度 电磁式:<15um±0.3um  >15um±2%
    高频式:<50um±1um    >50um±2%
    分辨率:<100um 0.1um  >100um 1um
    界限设定:可设定上/下限数值
    测试单位:公/英制互换
    显示方式:LCD数显
    操作面板:密封%水按键
    附属品:铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
    电源:DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个
    体积:80(W)×80(D)×30(H)
    重量:1100g

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