产品详情

• 产品介绍：

  四探针电阻率测定仪（方阻测试仪）可根据不同材料的要求选择测试探头；碳化钨探针探头用于测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；镀金铜合金探针探头用于测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高校和科研对导体、半导体材料导电性能的测量。

  规格参数：

  测量范围

                电阻率：0.1µΩ･cm～20MΩ･cm

                方块电阻：1µΩ/□～20MΩ/□

                模拟电阻：1µΩ～20MΩ

  测量精度

                电阻率：4%

                方块电阻：4%

                模拟电阻：0.1%

  测量速度：10次/秒、5次/秒、2次/秒

  触发方式：内部、手动、外部

  测量精度：0.5%

  数据接口：RC 232C

  环境温度：0-45℃

  相对湿度：≤95%RH

  功率范围：40W

  外形尺寸：350*125*315mm

  产品重量：8kg

  仪器配置：

  主机、测试架、四探针探头、采集软件（可根据要求定做）