规格参数：
测细硅芯用
晶体可测长约：3000mm
探头针沿晶体纵向移动距离：300mm
两探针测试架（测细硅芯棒用）
两探针测试平台用于测细硅芯用，探头针沿晶体纵向移动距离为300mm，晶体可测长度约3米。
露点水分检测
包装检测分析
材料物性检测分析
煤焦化检测分析
油品检测分析
现场管线探测
教学科研分析
电力安全检测
农业环境监测
采集取样检测
