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离子迁移普仪

型号:SDL-IMS
货号:ZH4103
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  • : 是一种用来探测空气中痕量物质的方法,被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子,然后让离子在弱电场中产生漂移,并测量出离子通过电场所用的时间,进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率(迁移率的定义是指在单位电场强度作用下离子的漂移速度)由于在%的条件下,%种物质离子的迁移率互不相同,因而也就导致不同的离子通过电场的漂移时间%不相同。这样,我们就可以根据漂移时间的测量来间接达到对样品的分离和检测,IMS检测,和已经发展成熟的飞行时间质谱分析,有些类似,不过,IMS不像质谱分析那样工作在高真空条件下进行检测,而是工作在大气环境气压条件下,这是IMS检测,的一个特点,尽管IMS工作在大气环境气压下,它的探测灵敏度仍然很高,可以达到(10-8—10-14)g,和质谱分析,以及其他一些检测,相比,IMS有着诸如仪器简单、体积小、重量轻、功耗低和分析时间快等许多优点,对%行业所关注的化合物的分析起着重要的作用!
    ,参数:
    电离源:氚(氢的放射性同位素,beta放射器),活动50 MBq
    ,低检出限:1ppb
    耗电量:无加热单元,多20W;带加热单元和解吸室,多48w
    电池寿命:自动运行状态下大约4-6小时
    显示:数字式 4×40位
    通信:RS232串行接口
    运行温度:-10℃到80℃
    尺寸:由实际需要所定
    重量:约8kg(包括电池)

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