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半导体热电特性综合实验仪

型号:UKYJ/SB-1
货号:ZH1530
浏览次数:24次
注:产品图片仅供参考
简要描述:

半导体热电特性实验仪可完成:金属电阻温度系数的测定、塞贝克效应、热电制冷器工作特性研究、半导体热电材料的珀尔帖效应进行制冷或制热特性、电阻温度计与非平衡直流电桥、PN结正向压降与温度关系的研究和应用、半导体热敏电阻特性的研究实验。

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  • 实验内容:
    1.热电制冷器工作特性研究;
    2.半导体热电材料的珀尔帖效应进行制冷或制热特性;
    3.塞贝克效应;
    4.半导体热敏电阻特性的研究;
    5.金属电阻温度系数的测定;
    6.PN结正向压降与温度关系的研究和应用;
    7.电阻温度计与非平衡直流电桥。
    规格参数:
    仪器主要由控温仪、半导体致冷堆组件组成;
    高精度数字智能化恒温控制,温度控制范围:加热范围:室温-120℃;致冷范围:-10℃--15℃,控温精度:0.1℃,恒温稳定度:±0.1℃;
    数字温度传感器:-50-125℃,精度±0.1℃,数显
    电流测量范围:0-2.400,测量精度:1mA
    电压测量范围:0-24.000V, 测量精度:1mV
    恒流源:0--1000uA
    配PN结
    配半导体热敏电阻

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