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高频介质损耗测试仪

型号:XMTD-8
货号:ZH11155
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  • 产品简介:
    介质损耗和介电常数是%种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的%种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,%、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新,,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至,低,并保留了原Q表中自动稳幅等,,使得新仪器在使用时%为方便,测量值%为,。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研,、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准:GB/T5594.4-1985。
    ,指标:
    1.Q值测量
    a.Q值测量范围:5~999
    b.Q值量程分档:30、100、300、999、自动换档
    c.标称误差 
    频率范围:25kHz~10MHz
    固有误差:≤5%±满度值的2%
    工作误差:≤7%±满度值的2%
    频率范围:10MHz~50MHz
    固有误差:≤7%±满度值的2%
    工作误差:≤10%±满度值的2%
    2.电感测量
    测量范围:0.1μH~1H
    分    档:分七个量程
    0.1~1μH,1~10μH,10~100μH, 0.1~lmH,1~10mH,10~100mH,100 mH~1H
    3.电容测量
    测量范围:1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)
    电容量调节范围
    主调电容器:40~500pF
    准  确  度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%
    微调电容量:-3pF~0~+3pF
    准  确  度:±0.2pF
    4.振荡频率
    振荡频率范围:25kHz~50MHz
    频率分档:  25~74kHz,74~213kHz,213-700kHz,700kHz~1.95MHz,1.95MHz~5.2MHz,5.2MHz~17MHz,17~50MHz
    频率误差:2×10-4±1个字
    5.Q合格指示预置功能,预置范围:5~999
    6.仪器正常工作条件
    环境温度:0℃~+40℃
    相对湿度:<80%
    电    源:220V±22V,50Hz±2.5Hz
    7.试样尺寸  圆片形:厚度2+0.5mm,直径为Φ30~40mm(ε<12时),Φ25~35mm(ε=12~30时),Φ15~20mm(ε>30时)
    8.其他 
    消耗功率:约25W
    净    重:约7kg
    外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

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